组件

抗PID性能

赛拉弗组件通过TÜV SÜD严苛的PID测试,表现优异

PID (Potential Induced Degradation)即电位诱发衰减。一些光伏电站实际经历表明,光伏发电系统的系统电压存在对晶体硅电池组件有持续的“电位诱发衰减”效用,基于丝网印刷的晶体硅电池通过封装材料(通常是 EVA和玻璃的上表面)对组件边框形成的回路所导致的漏电流,被确认为是引起上述效应的主要原因。严重时候它可以引起一块组件功率衰减50%以上,从而影响整个电站的功率输出。
由于湿度是PID现象产生的因素之一,赛拉弗注重封装的方式,选择品质优异的背板、EVA等原料,以降低水气进入组件的程度。通过原料的筛选和工艺的优化,降低EVA中含有的醋酸含量以减缓PID现象的发生。
同时赛拉弗与TÜV SÜD合作来测试产品,通过可靠的第三方数据来验证,以确保能够提供真正的免PID产品。TÜV SÜD对赛拉弗单晶系列组件和多晶系列组件进行了 PID 测试,高于标准要求的85%的湿度,85℃的温度,1000伏的系统偏压,持续96小时的测试条件,在如此严格的测试条件下,赛拉弗组件衰减均小于0.5%,明显符合规定的衰减5%以内的要求,展现出了赛拉弗组件过硬的质量和优异的产品性能。
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